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会方时间/地点/签到：
时间：2018年12月6日
地点：南京秦淮区淮海路新街口68号 5楼 铂金会议厅，餐厅4楼（右）
签到：报名审核后邮件通知签到二维码入场
深圳市易捷测试技术有限公司联合是德科技、美国Maury Microwave共同发起2018世界领先水平的噪声建模和噪声测量研讨会，并邀请顶级专家于2018年12月6日汇聚南京，我们与您一起揭开噪声测量和噪声模型提取的神秘面纱。您将有机会与行业顶级技术专家共同研讨噪声系数、噪声参数校准，测量和提取技术，以扩验证，影响噪声参数测量精度的关键因素，噪声模型以及提取等话题。
现代通讯系统中，接收机必须发现和接收非常弱的信号之同时不增加太多噪声，否则信号中的有用信息将会被覆盖而无法提取。 为了最大限度减少噪声，低噪声电路设计非常关键，好的的低噪声电路设计从精准的噪声参数噪声模型开始。 噪声参数测量和噪声模型提取是非常灵敏的技术，如果系统没有被正确校准，测量过程和模型提取流程本身可能成为噪声的主要来源。 因此噪声源产生的误差，正确采用最好的技术手段对于噪声参数的准确描述以及相关噪声模型提取非常关键。
本次技术研讨会将全面展示世界一流微波技术公司Maury在噪声测试领域的最新成果和合作案例，让您与行业专家面对面，共同探索最前沿的科技风采。
主讲嘉宾介绍：
1. Gary Simpson （美国）
Maury Microwave Corp.的首席技术官。
1973年，他开始了在摩托罗拉的第一份工作，负责微波功率管的手动负载牵引。他是器件表征系统的先驱。1987年，开发了世界上首个应用于负载牵引测量系统的自动阻抗调谐器。
2. Jiang Liu (美国）
ModelithicsRF建模资深工程师和项目负责人。南佛罗里达大学电子工程博士，主要研究RF，微波方面的精密测量技术与非线性器件建模技术的研发工作，他本人在RF，微波组件的特性和建模方面拥有丰富的经验。他先后发表了20多篇论文，并拥有一项关于混频器建模技术的专利。
3. DI LIU （ 是德科技政府行业解决方案事业部负责人)
是德科技政府行业解决方案事业部负责人，2007年加入安捷伦/是德科技，主要从事微波毫米波的测试测量工作，有多篇文章发表在IEEE会议和国内期刊会议上，毕业于北京邮电大学电信工程学院电磁场与微波技术专业，硕士学位。
1，MODELITHIS：世界最好的射频微波仿真模型
Modelithics在2001年创始于美国佛罗里达，目前在亚洲，印度，以色列，欧洲和美国等20个国家，已经有超过300家公司在使用我们的模型和建模服务。我们拥有专业的测量和建模团队，能够完成准确的测量，模型提取，模型验证，模型报告等一系列建模流程，我们提供的准确全能的可伸缩的线性和非线性模型，可以支持ADS,HFSS,NI AWR,Cadence等业界普遍使用的电路仿真设计软件，并能为用户在这些仿真软件中使用我们的模型提供长期的支持服务。
2，Maury Microwave:
Maury 微波公司1957年成立于美国加利福尼亚州的安大略市。公司的主要产品包括各种自动阻抗调配器、射频和微波器件和附件、矢量网络分析仪校准套件等。在无线通信、航空航天、防务电子和科研教育行业，Maury微波公司测量晶体管和放大器的功率和噪声特性的负载牵引系统是最常用测量系统。
易捷测试是您校准、测量和建模解决方案的合作伙伴。通过使用Maury Microwave的校准、测量和建模的产品，将对您要测试的各个方面有保障，助您成功。我们通过利用Maury Microwave的专业性来创建和供应从最小的适配器到最大的测试系统的每一个组件，从而保证无缝集成。我们提供Maury的适配器、电缆组件和衰减器，同轴和波导VNA校准装置、校准标准和校准系统，让您如同拿到钥匙般得到问题的解决，这些系统解决方案包括测量和建模软件，阻抗调谐器，负载拉力和噪声参数系统等。
3.KEYSIGHT ：创造技术未来。
易捷测试和KEYSIGHT战略合作伙伴。是德科技（NYSE：KEYS）-原安捷伦电子测量事业部，是全球电子测量技术和市场的领导者，致力于推动无线通信、模块化和软件解决方案的持续创新，专注于为客户提供卓越的测量体验。是德科技提供的电子测量仪器、系统、软件及服务广泛应用于电子设备的设计、研发、制造、安装、部署和运营。
4.易捷测试：
深圳市易捷测试技术有限公司，简称易捷测试（GBIT）。 是德科技系统集成的战略Solution Partner, 易捷测试在中国半导体测试和射频微波测量领域系统集成方面有丰富的经验。 公司成立于2011年，总部设在深圳 。公司成立至今，先后引进美国、欧洲、日本等先进设备与技术。系统集成解决方案服务是易捷的主要业务。易捷紧跟趋势，拥有各类不同探针台在片集成技术，包括：半导体微波THz在片方案、光电测试、高低温环境下的EMMI测试、硅光在片测量、X光辐照总剂量在片测试系统、材料电特性测试、雷达和通信对抗测试系统集成解决方案等。
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噪声和噪声系数
Introduction to Noise and Noise Figure
噪声参数介绍
Introduction to Noise Parameters
茶歇时间
噪声参数测试及验证
Noise Parameter Validation & Confidence in Measurements
影响测量的关键变量
Critical Variables which affect Noise Parameters
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标准噪声测试系统与验证
Banchmarking Noise Measurement Systems
非线性器件的噪声建模
Passive Device Validation of Noise Systems
茶歇时间（TEA BREAK)
XT系列TUNER，MT2000介绍
基于Y因子法和冷源法测量噪声系数的比较
Comparison of Noise Figure Measurement between Y-Factor Method and Cold-Source Method
噪声在片集成系统设计与测试
抽奖活动和与嘉宾互动讨论
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