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DO-178C 深入解读
编号:C1740
讲师:王云明 博士
语言:中文
CEU:2.0 CEUs (美国继续教育学分)
地点:上海
参会价格:CNY 5,600 (含税)
RTCADO-178C(机载系统和设备审定中的软件要求)是全球公认的民用航空软件开发和审定标准。符合DO-178C的目标是TC/STC/TSO中的机载软件满足适航要求并获得批准的主要方式。 仅仅能够正确地解读DO-178C的目标并不足以让工程师满足这些目标或让软件审查员/DER来判断这些目标的符合性。他们还需要深入理解DO-178C的核心基础和基本原理才能更好地应对实际应用中的千变万化的状态和困难。此次为期三天的研讨会将使参会者提升这样的能力。 本次研讨还将在涉及工具鉴定、基于模型的开发与验证、形式化方法、面向对象技术时DO-178C与DO-330, DO-331, DO-332, DO-333 等标准的组合使用。
目标
通过参加此次技术专题研讨会,您将能够:
理解全产品生命周期中的PMA认识软件生命周期数据及其可追溯性的最佳实践
执行软件变更影响分析以及变更控制
分析软件测试需求覆盖率
分析软件测试结构覆盖率(语句覆盖与判定覆盖)
进行唯一原因法的MC/DC 和屏蔽的MC/DC覆盖分析,以最小成本满足目标
进行数据耦合与控制耦合分析
使用合适的技术(工具鉴定、基于模型的开发与验证、形式化方法、面向对象)更好地满足目标
组合使用DO-178C核心文档与DO-330, DO-331, DO-332, DO-333
受众
(机载)软件工程师、航空适航管理工程师;
负责机载系统或设备的软件研发、验证、配置管理、质量保证的工作人员;
负责机载系统或软件适航管理或审查工作以及负责供应商管理的工作人员,特别是机载软件供应商的电子工程领域工作人员。
条件
我们建议参会者在相关技术领域拥有学士学位或同等学力。因为本次研讨会定位于DO-178C高级培训,参会者最好已经参加过DO-178C基础培训或者已经拥有适航和DO-178C标准的基本知识。
大纲
第一天
软件生命周期数据及其追踪的最佳实践
软件变更影响分析以及变更控制
软件验证过程最佳实践
软件测试用例选择
软件测试环境
软件测试需求覆盖率
第二天
软件验证过程最佳实践
软件测试结构覆盖率
唯一原因法MC/DC与屏蔽的MC/DC
数据耦合与控制耦合
第三天
工具鉴定与DO-330
MBDV与DO-331
面向对象与DO-332
形式化方法与DO-333
DO-178C与DO-330, DO-331, DO-332, DO-333的组合使用
总结
讲师: 王云明 博士
王云明先生拥有复旦大学数学系的学士学位,复旦大学计算机科学系的硕士学位,和法国国家信息与自动化研究所(INRIA)计算机科学专业的博士学位。
在法国从事科研和工作的环境中,王云明先生深入接触了软件开发、软件审查、工具鉴定等工作,从而积累了非常丰富的软件适航实施和审定经验。王云明先生还是SC-205/WG-71的成员,参与了DO-178C、DO-330、DO-331、DO-332、DO-333、DO-278A、DO-248C等标准的制订工作,对民用航空适航标准有着深刻的研究和独到的见解。
温 馨 女士 Echo
021-6140-8922
Echo.wen@sae.org
退票说明:
如您无法出席本次会议且需要退款,请务必提前2个工作日发送邮件给主办方,逾期将不再受理退费事宜。(境外发行的银行卡将收取8%手续费。)